Field-ion-scanning tunneling microscopy (FI-STM) of alkali metal adsorption on the Si(100) surface

Veröffentlicht 1989

Initial stage deposition of Ag on the Si(100) 2x1 surface studied by STM

Veröffentlicht 1989

Handōtai-no-hyōmen, kekkan, nano-kōzō-no-seigyo-to-rono-bussei: tokushū

Veröffentlicht 2006

Pulse field evaporation of III-V semiconductors : comparison of voltage pulse and laser pulse modes

Veröffentlicht 1985

A role of a tip geometry on STM images

Veröffentlicht 1988

Scanning tunneling microscope with a field ion microscope

Veröffentlicht 1988

Determination of the absolute detection efficiency of a channelplate electron multiplier

von Sakurai, Toshio
Veröffentlicht 1985

A high performance forcusing-type time-of-flight atom-probe

von Sakurai, Toshio
Veröffentlicht 1983

A new result in surface segregation of Ni-Cu binary alloys

von Sakurai, Toshio
Veröffentlicht 1985

A high performance forcusing-type time-of flight atom-probe with a channeltron as signal detector

von Sakurai, Toshio
Veröffentlicht 1983

Sputtering of a FIM specimen by imaging gases

von Nakamura, Shogo
Veröffentlicht 1985

Nanoscale science : [papers presented at the First International Workshop on "Nanoscale Science - Present and Its Future" which was held on September 23 through 26, 1992, at the...

Veröffentlicht 1993