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  1. 1
    Advances in electronic testing : challenges and methodologies
    Veröffentlicht 2006
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  2. 2
    Embedded processor-based self-test
    von Gizopoulos, Dimitris
    Veröffentlicht 2004
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  3. 3
    2009 24th [i.e. 22nd] IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : DFT 2009 ; Chicago, Illinois, USA, 7 - 9 October 2009
    Veröffentlicht 2009
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  4. 4
    Veröffentlicht 2017
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  5. 5
    Veröffentlicht 2019
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