Werkzeugverschleißüberwachung beim Drehen und Bohren

von Waschkies, E.
Veröffentlicht in Ultraschallprüfung und Sensoren (1993)

Layer Configurations for Al-Ge Eutectic Wafer Bonding

von Visker, J.
Veröffentlicht in Pacific Rim Meeting on Electrochemical and Solid State Science (2020 : Online) (16.) Semiconductor Wafer Bonding: Science, Technology and Applications 16 (2020)