Recherche d'une étape défaillante dans un procédé industriel : quand le désordre est source d'information

von Bergeret, François
Veröffentlicht in Revue de statistique appliquée (1999)

Conditional Anomaly Detection for Quality and Productivity Improvement of Electronics Manufacturing Systems

von Jabbar, Eva
Veröffentlicht in LOD (5. : 2019 : Siena) Machine learning, optimization, and data science (2019)