Alfred Benninghoven

Alfred Benninghoven (* 8. Februar 1932 in Frankfurt am Main; † 22. Dezember 2017) war ein deutscher Physiker. Veröffentlicht in Wikipedia
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    Ion formation from organic solids : IFOS III ; mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. Internat. Conference, Münster, Fed. Rep. of Germany, Sept. 16 - 18, 1985
    Veröffentlicht 1986
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    Veröffentlicht 1983
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1961
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1961
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1965
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1961
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1961
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1961
    Katalogkarte der UB Frankfurt
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    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1961
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  10. 10
    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1978
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  11. 11
    Verbundprojekt zur Entwicklung verbesserter Verfahren der Mikroanalyse von Oberflächen und dünnen Schichten durch Kombination von Ionenstrahl- und Lasertechniken : Teilvorhaben Geräteentwicklung, Verfahrensentwicklung, Analytik ; Abschlußbericht
    Veröffentlicht 1993
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  12. 12
    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1978
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  13. 13
    Oberflächenanalytik an Plasmapolymerisationsschichten : Teilvorhaben
    Veröffentlicht 1993
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  14. 14
    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1978
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    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
    von Benninghoven, Alfred
    Veröffentlicht 1978
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  16. 16
    Secondary ion mass spectrometry : proceedings of the ninth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS IX), Yokohama, Japan, 7 - 12 November, 1993
    Veröffentlicht 1994
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  17. 17
    Secondary ion mass spectrometry : SIMS VI ; proceedings of the Sixth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Palais des Congrès, Versailles, Paris, France, September 13 - 18th, 1987
    Veröffentlicht 1988
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  18. 18
    Secondary ion mass spectrometry ; SIMS III ; Proceedings of the third international conference, Technical University, Budapestm Hngary, August 30 - September 5, 1981
    Veröffentlicht 1982
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  19. 19
    Secondary ion mass spectrometry
    Veröffentlicht 1982
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  20. 20
    Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV ; proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13 - 19, 1983
    Veröffentlicht 1984
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